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了解更多高低溫試驗箱(xiang) 恒溫恒濕試(shi)驗箱 快速溫(wen)變(bian)試驗箱 冷(leng)熱(re)沖(chong)擊試驗箱 高低溫低氣壓試驗箱 淋雨試驗箱 防水試驗機(ji) 防塵試驗機 陽光模擬試驗箱(xiang) 冷凝(ning)水試驗機 霉菌試(shi)驗箱
溫度(du)·濕度(du)·振動三綜合試驗箱 溫度·濕度·噴淋氙燈光照綜(zong)合模擬(ni)試驗機 溫度·濕(shi)度·紫外光照·淋雨綜(zong)合試驗機 高(gao)溫低溫濕熱(re)鹽霧綜合(he)試(shi)驗機(ji)
電池防(fang)爆型高低(di)溫環境試驗箱 鋰電池防爆(bao)型高溫(wen)化成與(yu)充放電一體機 智能型(xing)電池包高低溫冷卻測(ce)試機 高精度電池蓋(gai)板多功能試驗臺(tai) 電池膨(peng)(peng)脹力和膨(peng)(peng)脹位移試驗(yan)機(ji) 電(dian)池動態結構疲(pi)勞試驗機(ji) 電池蓋板翻轉爆破呼(hu)吸試(shi)驗臺 電(dian)池熱失控(kong)(熱擴散(san))測試設備 鋰電池高(gao)精度針刺擠壓(ya)一體試驗(yan)機(ji) 電池短(duan)路試驗機(內(nei)阻補償+分檔可(ke)調) 鋰(li)電池重物沖擊試驗(yan)機 電池防爆跌落試(shi)驗機 電池燃燒噴射(she)試驗機 動力(li)電池熱濫用熱沖(chong)擊試驗箱
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提供穩(wen)定、安全、節能的可靠性試驗(yan)設備解(jie)決方案(an)及服(fu)務
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各類可靠性試(shi)驗的區別與聯系(xi)
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高低(di)溫試驗箱基本(ben)故障排除方法
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恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)故障的分析判斷
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高低溫試(shi)驗箱使(shi)用過程中遇見(jian)的問(wen)題
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環(huan)境試驗(yan)與可靠(kao)性試驗(yan)的區別
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如何去判定高低溫試驗(yan)箱(xiang)的(de)性能?
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恒溫恒濕試驗(yan)箱加濕的(de)優點
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HAST實驗箱箱體結構及(ji)系統說明
滿(man)足標(biao)準 ●JESD22-A102E-2015 加(jia)速水汽(qi)抵抗性(xing)--無偏(pian)置高壓(ya)(ya)蒸(zheng)(zheng)煮(zhu)(PCT) ●JESD22-A110E.01-2021 高加(jia)速溫濕度應力試(shi)(shi)驗(HAST)(有偏(pian)置電壓(ya)(ya)未飽和高壓(ya)(ya)蒸(zheng)(zheng)汽(qi)) ●JESD22-A118B.01-2021 加(jia)速水汽(qi)抵抗性(xing)--無偏(pian)壓(ya)(ya) HAST(無偏(pian)置電壓(ya)(ya)未飽和高壓(ya)(ya)蒸(zheng)(zheng)汽(qi)) ●IEC60068-2-66:1994(GB/T 2423.40-2013)環境試(shi)(shi)驗 第2 部分:試(shi)(shi)驗方(fang)法 試(shi)(shi)驗Cx:未飽和高壓(ya)(ya)蒸(zheng)(zheng)汽(qi)恒(heng)定(ding)濕熱 ●IEC60749-4:2017(GB/T 4937.4-2012)半(ban)導體器件 機械(xie)和氣候試(shi)(shi)驗方(fang)法 第4 部分:強加(jia)速穩(wen)態濕熱試(shi)(shi)驗(HAST)
如何防止(zhi)電池熱失控(kong)(kong),電池熱失控(kong)(kong)測試設備介紹
全(quan)球汽(qi)(qi)(qi)車(che)產業低碳發展是一(yi)個大趨(qu)勢、大方向(xiang)。國內(nei)新(xin)能源汽(qi)(qi)(qi)車(che)“出海”及“下鄉”為大勢所趨(qu),而鋰電(dian)(dian)池安(an)(an)全(quan)問題一(yi)直是新(xin)能源汽(qi)(qi)(qi)車(che)重(zhong)點關注的(de)(de)話題。國家對應出臺了(le)GB 38031-2020《電(dian)(dian)動汽(qi)(qi)(qi)車(che)用動力蓄電(dian)(dian)池安(an)(an)全(quan)要(yao)求》強(qiang)制性(xing)測(ce)試(shi)標準進(jin)行規范,熱失(shi)(shi)控(kong)(kong)是電(dian)(dian)池安(an)(an)全(quan)問題的(de)(de)重(zhong)中之重(zhong),電(dian)(dian)池引(yin)發熱失(shi)(shi)控(kong)(kong)的(de)(de)成(cheng)因很多,整(zheng)體(ti)來說包含(han)內(nei)部和外部因素兩種。內(nei)部因素包含(han)電(dian)(dian)池生產缺陷導(dao)致的(de)(de)過熱、BMS功能缺陷導(dao)致過充(chong),以(yi)及因使用不當導(dao)致的(de)(de)內(nei)部短路(lu)。外部因素包含(han)擠(ji)壓和針刺等誘發電(dian)(dian)池短路(lu),以(yi)及電(dian)(dian)池外部短路(lu)誘發電(dian)(dian)池內(nei)部熱量累積引(yin)起SEI膜(mo)和正極(ji)材(cai)料等發生分解導(dao)致熱失(shi)(shi)控(kong)(kong)。
眾志檢測儀器符合AEC Q101標準HAST高加速溫度和濕(shi)度壓(ya)力試驗箱介(jie)紹
AEC-Q101-2021標準(zhun)定(ding)義了器(qi)(qi)件(jian)滿足車規(gui)最小應力測試(shi)(shi)的(de)(de)認(ren)證(zheng)要求(qiu),并詳(xiang)細提供了認(ren)證(zheng)的(de)(de)測試(shi)(shi)項目(mu)和參考測試(shi)(shi)條(tiao)件(jian),目(mu)的(de)(de)在于確(que)定(ding)器(qi)(qi)件(jian)能夠通過(guo)指定(ding)的(de)(de)應力測試(shi)(shi),其中包括加速(su)應力測試(shi)(shi),如(ru)HAST/UHAST/AC/H3TRB等。眾志(zhi)檢測儀器(qi)(qi)重點介紹(shao)眾志(zhi)儀器(qi)(qi)符合(he)車軌AEC-Q101-2021標準(zhun)HAST高(gao)加速(su)溫(wen)度和濕度壓力試(shi)(shi)驗箱介紹(shao)!
芯片測試(shi)HAST試(shi)驗箱
芯(xin)片(pian)(pian)HAST(Highly Accelerated Stress Test)試驗箱用于測試芯(xin)片(pian)(pian)長(chang)期存儲條件(jian)(jian)下,高溫(wen)和(he)時間對芯(xin)片(pian)(pian)器件(jian)(jian)的影響。僅針對塑封(feng),分為帶偏置(zhi)(hast)和(he)不帶偏置(zhi)uhast的測試,UHAST需要提前PC處理(li)。
HAST高加速壽(shou)命試驗設備介紹
HAST高(gao)加(jia)(jia)速(su)壽(shou)(shou)命(ming)試(shi)驗設備又名HAST高(gao)壓(ya)加(jia)(jia)速(su)試(shi)驗機,廣泛(fan)用于(yu)IC半導體、連接器(qi)、線路板、磁性材(cai)料、高(gao)分子材(cai)料、EVA、光伏組件等行業相關之(zhi)產品作加(jia)(jia)速(su)老(lao)化壽(shou)(shou)命(ming)測試(shi)。加(jia)(jia)速(su)壽(shou)(shou)命(ming)試(shi)險(xian)的(de)目的(de)是提高(gao)環(huan)境(jing)應力(li),如(ru)溫度與工(gong)作應力(li)(施加(jia)(jia)給產品的(de)電壓(ya)、負荷(he)等),加(jia)(jia)快(kuai)試(shi)驗過程,縮(suo)短產品或系統的(de)壽(shou)(shou)命(ming)試(shi)驗時(shi)間。需(xu)要(yao)加(jia)(jia)電的(de)簡稱為(wei)HAST或BHAST,不加(jia)(jia)電的(de)簡稱為(wei)UHAST或UHST。
HAST試(shi)驗箱原理及測試(shi)說明(ming)
HAST高壓(ya)加速老(lao)化試(shi)驗箱主要(yao)測試(shi)環境包含THB(主要(yao)的測試(shi)條件是溫度為85℃/相對(dui)(dui)濕度為85%/規定電(dian)壓(ya))、與PCT試(shi)驗箱的區別是,PCT試(shi)驗(通常(chang)指100%相對(dui)(dui)濕度的飽和蒸汽測試(shi))、HAST(通常(chang)指相對(dui)(dui)濕度為85%的非飽和蒸汽測試(shi))。
HAST試驗箱(xiang)-高壓加(jia)速壽(shou)命試驗箱(xiang)壽(shou)命試驗箱(xiang)技術規格型號尺寸
HAST高(gao)壓加(jia)速(su)老化壽(shou)命試驗(yan)箱(xiang)是(shi)各種老化實(shi)驗(yan)中,常用設備之一,適用于電(dian)子(zi)(zi)儀(yi)(yi)器儀(yi)(yi)表、材料(liao)、電(dian)工、車輛、金屬、電(dian)子(zi)(zi)產品(pin)、各種電(dian)子(zi)(zi)元(yuan)氣件(jian)在高(gao)溫高(gao)氣壓環境(jing)下、檢驗(yan)其(qi)各性能(neng)項指標及質量管理之用。
什(shen)么(me)是uHAST高(gao)加速溫濕度試驗?主(zhu)要應(ying)用測試設備是什(shen)么(me)?
uHAST高加速(su)溫濕(shi)度試(shi)驗(ubias Highly Accelerated Stress Test)測(ce)試(shi)為不帶(dai)電的(de)(de)高溫高濕(shi)下的(de)(de)可(ke)(ke)靠性(參考與執行試(shi)驗標(biao)準:JESD22-A118)。 可(ke)(ke)以參考BHAST的(de)(de)測(ce)試(shi)數量以及測(ce)試(shi)溫度。與bHAST的(de)(de)區別就是uHAST就是不加任何(he)電壓,對封裝的(de)(de)可(ke)(ke)靠性進行測(ce)試(shi)。
電池(chi)(chi)熱失控(kong)的引發原因?鋰離子電池(chi)(chi)、蓄電池(chi)(chi)熱失控(kong)解(jie)決方案
通過(guo)對不同標準中(zhong)熱失(shi)控(kong)的(de)定(ding)義對比(bi)發現,熱失(shi)控(kong)更多是被描述為:電(dian)(dian)池內部(bu)發生(sheng)不可(ke)控(kong)溫(wen)(wen)升的(de)現象。在電(dian)(dian)芯(xin)的(de)實際使用(yong)過(guo)程(cheng)中(zhong),其材料可(ke)逆容(rong)量、SEI阻抗、電(dian)(dian)解液組(zu)分、結構(gou)件(jian)物(wu)理指標等是一個(ge)動(dong)態(tai)變化過(guo)程(cheng),直(zhi)接影響電(dian)(dian)芯(xin)充放電(dian)(dian)曲線(xian)、內阻等動(dong)態(tai)變化。如果電(dian)(dian)芯(xin)的(de)實際使用(yong)條件(jian)(如溫(wen)(wen)度限值、電(dian)(dian)壓限值、電(dian)(dian)流值等)沒(mei)有動(dong)態(tai)調(diao)整與(yu)之(zhi)匹配,從而(er)造成(cheng)電(dian)(dian)芯(xin)內部(bu)結構(gou)加速損(sun)傷以及(ji)引發部(bu)分關(guan)鍵(jian)原(yuan)材料加速失(shi)效的(de)情(qing)況,稱之(zhi)為電(dian)(dian)芯(xin)濫(lan)用(yong)。濫(lan)用(yong)經常會最終(zhong)導致電(dian)(dian)芯(xin)安全失(shi)效,即(ji)熱失(shi)控(kong)。